精密仪器

 透射电子显微镜（TEM）（Transmission Electron Microscope）——可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构（亚显微结构或超微结构）-要想看到这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率；以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM可达0.2nm.

光学显微镜（OM）（Optical Microscope）——一种精密的光学仪器；已有300年的发展史；放大千余倍；

扫描电子显微镜（SEM）（Sanning Electron Microscope）——一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。能达到对物质微观形貌表征的目的。

 X射线衍射仪（XRD）（X-ray diffraction）——通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段；X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。

金相分析——是金属材料试验研究的重要手段之一，采用定量金相学原理，由二维金相试验磨面或薄膜的金相显微组织的测量和计算来确定合金组织的三维空间形貌，从而建立合金成分、组织和性能间的定量关系。将图像处理系统应用于金相分析，具有精度高、速度快等优点，可以大大提高工作效率。